Перейти к основной навигации Перейти к поиску Перейти к основному содержанию

CHEMICALLY ASSISTED ION BEAM ETCHING FOR SUBMICRON STRUCTURES.

  • J. D. Chinn
  • , I. Adesida
  • , E. D. Wolf

Результат исследованийрецензирование

20   !!Link opens in a new tab Цитирования (Scopus)

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «CHEMICALLY ASSISTED ION BEAM ETCHING FOR SUBMICRON STRUCTURES.». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).
Сортировать по:

INIS

Engineering

Material Science

Keyphrases