Перейти к основной навигации
Перейти к поиску
Перейти к основному содержанию
Домашняя страница
English
русский
Домашняя страница
Профили
Исследовательские подразделения
Проекты
Результат исследований
Виды деятельности
Поиск по экспертным знаниям, имени или принадлежности
Test generation and fault localization for quantum circuits
Marek Perkowski, Jacob Biamonte, Martin Lukac
School of Engineering and Digital Sciences
Результат исследований
›
рецензирование
32
Цитирования (Scopus)
Обзор
Fingerprint
Fingerprint
Подробные сведения о темах исследования «Test generation and fault localization for quantum circuits». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).
Сортировать по:
Вес
В алфавитном порядке
Keyphrases
Quantum Circuit
100%
Standard Circuit
100%
Fault Localization
100%
Test Case Generation
100%
Quantum Computing
50%
Internal State
50%
Fault Table
50%
Fault Model
50%
Probabilistic Information
50%
Probabilistic Set Covering
50%
Deterministic Test
50%
Practical Effects
50%
Probabilistic Test
50%
Adaptive Tree
50%
Detect Fault
50%
Computer Science
Quantum Circuit
100%
Test Generation
100%
Fault Localization
100%
Quantum Computing
50%
Internal State
50%
Engineering
Quantum Circuit
100%
Internal State
100%
Fault Model
100%
Covering Set
100%
INIS
probabilistic estimation
100%
industry
25%
information
25%
tables
25%
coverings
25%
quantum computing
25%
Material Science
Electronic Circuit
100%